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如何检测接近传感器的故障

关键词:接近传感器,接近开关,霍尔开关

日期:2018-07-16作者:
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  接近传感器是以光电传感器、接近传感器等为主体的检测接近传感器,半导体一般会在使用初期发生故障,其原因是使用在回路中的半导体,在制造中受到种种应力而导致在使用开始后的短期内发生破损;另外,功率比半导体低的电阻、电容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的发生时间。

  接近传感器包括偶尔故障和使用初期故障,偶尔故障包括半导体部件的不良而引起的故障,电阻、电容的短线、短路、容量不足,电路板的电路断裂,带焊料等的不良现象,但发生率极低。接近传感器经常发生故障时,可以考虑为使用环境的问题。

 

  接近传感器负荷短路与配线错误

  由于配线错误或带电作业引起负荷短路时,导致大电流流向检测接近传感器,输出回路烧毁。作为在检测接近传感器外进行的保护对策,可使用切断快速熔断器短路电流的方法,通过熔断器进行保护,不仅可保护负荷短路,还对地线有保护作用。但是,由于开关内的输出晶体管的残余容量小,达不到百分百的效果。

  干扰波导致的破损

  由干扰波带来的破损是慢慢形成的,因此在开始使用后的一个月或二三个月后发生破损是极其普通的。因此,在该器件发生破损时,其原因则可判断为干扰波。电感负载开闭时发生的检测接近传感器的瞬间错误动作时由干扰波造成的。